Nous avons le plaisir de vous inviter au prochain Midi MINATEC by GIANT qui se déroulera le vendredi 26 mai 2023 à 12h30 en Amphi à la Maison MINATEC et en visioconférence.
Cette conférence se tiendra entièrement en anglais.
The Atomic Force Microscopy is a method where various parameters can be measured locally with nanometric resolution. Especially, electrical investigation is possible when using some atomic force microscopy specific modes. During this presentation I will go through different examples of atomic force microscopy electrical characterization applied on materials (e.g. silicon, gallium nitride, two dimensional GaSe) and devices (e.g. photodetectors, transistors, LEDs).
Important :
Le nombre est limité en présentiel mais aussi en visio : dès lors que vous vous inscrivez, nous comptons sur votre présence !
Pensez à cocher la case sandwich lors de votre inscription en salle si vous le souhaitez.
Nous vous demandons de bien vouloir vous connecter quelques minutes avant le début du Midi MINATEC.
HDR, Expert de Direction, CEA-Leti
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